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Polarisationsabhängige IR-Spektroskopie

 

Polarisationsabhängige Infrarot-Spektroskopie und Ellipsometrie

Ansprechpartner

PD Dr. Karsten Hinrichs, ISAS Berlin; Tel: 030 6392 3541; Mail: karsten.hinrichs(at)isas.de

Kurzbeschreibung

Die polarisationsabhängige IR-Spektroskopie und Ellipsometrie ist besonders geeignet für die Untersuchung von neuen Materialien, Metamaterialien, Hybridmaterialien sowie dünnen organischen und anorganischen Schichten mit Dicken von einigen Mikrometern bis hin zu einer Monolage. Sie ermöglicht die Bestimmung optischer Konstanten und Schichtdicken und liefert zum Beispiel detaillierte Informationen über die chemische Struktur und Molekülorientierungen in Polymeren oder zu Dotierungseigenschaften von leitfähigen Polymerfilmen und der dielektrischen Funktion von Graphene. Die Untersuchungen der Modifikation und des Wachstums an der Fest-Flüssig-Grenzfläche, aber auch mikroskopische Messungen, vor allem an  funktionalen Filmen und Oberflächen sowie Schichten aus Polymeren und Proteinen, stehen zurzeit im Fokus des Interesses. 

Art des Angebots

Methode/Kompetenz

 

Anschrift

  • Bunsen-Kirchhoff-Str. 11
  • 44139 Dortmund

Ansprechpartner

 
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