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Rasterelektronenmikroskop JEOL JSM7500F

 

Hochvakuum-Rasterelektronenmikroskop mit kaltem Feldemitter für hohe Auflösungen

Ansprechpartner

Prof. Dr. Niels de Jonge

Kurzbeschreibung

Bei dem JEOL JSM7500F handelt es sich um ein Hochvakuum-Rasterelektronenmikroskop mit kaltem Feldemitter für hohe Auflösungen besonders bei niedrigen Beschleunigungsspannungen ab 0.1 kV. Semi-in-lens-System mit JEOL r-Filter für variable Filterung der von der Probe emittierten Rückstreu- und Sekundärelektronen. Zusätzlicher LABE-Detektor für Rückstreuelektronen bei extrem niedrigen Beschleunigungsspannungen. Stickstofffreies „UltraDry Silicon Drift“ EDX-Analysesystem von Thermo Scientific (Noran 7) mit 30 mm2 Detektorfläche und einer Energieauflösung von 130 eV.

Detailinformationen (Internetadresse)

http://www.inm-gmbh.de/de/technologien/gerateausstattung/

Art des Angebots

Geräteausstattung/Infrastruktur

Angebot ist interessant für

Industrie und Forschung, Servicemessungen

 

Anschrift

  • Campus D2 2
  • 66123 Saarbrücken

Ansprechpartner

  • Dr. Marcus Geerkens
  • Leiter Forschungsförderung und Technologietransfer
  • Tel.:0681/9300-227
  • Fax.:0681/9300-219
  • [E-Mail-Adresse versteckt]
 
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