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Rastersondenmikroskop JEOL JSPM5200
Hochauflösendes Rastersondenmikroskop mit austauschbarer Sondenspitze
Ansprechpartner
Prof. Dr. Niels de Jonge
Kurzbeschreibung
Das JEOL JSPM5200 ist ein hochauflösendes Rastersondenmikroskop mit austauschbarer Sondenspitze und als Rasterkraft- (AFM) oder Rastertunnelmikroskop (STM) konfigurierbar. „Contact“, „non contact“ und „alternating contact“ mode im AFM-Betrieb, CITS, I-V, S-V und I-S Messungen im STM-Betrieb sind möglich. Ein Umbau zum Environmentalsystem zur Untersuchung in verschiedenen Gasatmosphären ist möglich und verschiedene Probenscanner bis max. 100 µm in x und y bzw. max. 5 µm in z sind vorhanden.
Detailinformationen (Internetadresse)
Art des Angebots
Geräteausstattung/Infrastruktur
Angebot ist interessant für
Industrie und Forschung, Servicemessungen
Anschrift
- Campus D2 2
- 66123 Saarbrücken
Ansprechpartner
- Dr. Marcus Geerkens
- Leiter Forschungsförderung und Technologietransfer
- Tel.:0681/9300-227
- Fax.:0681/9300-219
- [E-Mail-Adresse versteckt]
