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Rastersondenmikroskop JEOL JSPM5200

 

Hochauflösendes Rastersondenmikroskop mit austauschbarer Sondenspitze

Ansprechpartner

Prof. Dr. Niels de Jonge

Kurzbeschreibung

Das JEOL JSPM5200 ist ein hochauflösendes Rastersondenmikroskop mit austauschbarer Sondenspitze und  als Rasterkraft- (AFM) oder Rastertunnelmikroskop (STM) konfigurierbar. „Contact“, „non contact“ und „alternating contact“ mode im AFM-Betrieb, CITS, I-V, S-V und I-S Messungen im STM-Betrieb sind möglich. Ein Umbau zum Environmentalsystem zur Untersuchung in verschiedenen Gasatmosphären ist möglich und verschiedene Probenscanner bis max. 100 µm in x und y bzw. max. 5 µm in z sind vorhanden. 

Detailinformationen (Internetadresse)

http://www.inm-gmbh.de/de/technologien/gerateausstattung/

Art des Angebots

Geräteausstattung/Infrastruktur

Angebot ist interessant für

Industrie und Forschung, Servicemessungen

 

Anschrift

  • Campus D2 2
  • 66123 Saarbrücken

Ansprechpartner

  • Dr. Marcus Geerkens
  • Leiter Forschungsförderung und Technologietransfer
  • Tel.:0681/9300-227
  • Fax.:0681/9300-219
  • [E-Mail-Adresse versteckt]
 
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