Kurzbeschreibung
Das JEOL JSPM5200 ist ein hochauflösendes Rastersondenmikroskop mit austauschbarer Sondenspitze und als Rasterkraft- (AFM) oder Rastertunnelmikroskop (STM) konfigurierbar. „Contact“, „non contact“ und „alternating contact“ mode im AFM-Betrieb, CITS, I-V, S-V und I-S Messungen im STM-Betrieb sind möglich. Ein Umbau zum Environmentalsystem zur Untersuchung in verschiedenen Gasatmosphären ist möglich und verschiedene Probenscanner bis max. 100 µm in x und y bzw. max. 5 µm in z sind vorhanden.
Art des Angebots
Geräteausstattung/Infrastruktur
Angebot ist interessant für
Industrie und Forschung, Servicemessungen