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Spektralellipsometer WOOLLAM M-2000 DI

Vermessung glatter, nicht streuender Oberflächen

Ansprechpartner

Dr. Peter W. de Oliveira

Kurzbeschreibung

Mit dem Spektral Ellipsometer werden glatte, nicht streuende Oberflächen vermessen. Damit können der Brechungsindex, der Absorbtionskoeffizient und die Dicke dünner Schichten (üblicherweise 2 nm bis 10 µm) bestimmt werden.
 
Messung:
Optische Konstanten (n, k)
Schichtdicken (üblicherweise 2 nm bis 10 µm)

Hersteller
J. A. Woollam Co., Inc., Lincoln, USA 

Detailinformationen (Internetadresse)

http://www.inm-gmbh.de/de/technologien/gerateausstattung/

Art des Angebots

Geräteausstattung/Infrastruktur

Angebot ist interessant für

Industrie und Forschung, Servicemessungen

 

Anschrift

  • Campus D2 2
  • 66123 Saarbrücken

Ansprechpartner

  • Dr. Marcus Geerkens
  • Leiter Forschungsförderung und Technologietransfer
  • Tel.:0681/9300-227
  • Fax.:0681/9300-219
  • [E-Mail-Adresse versteckt]
 
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