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Transmissions-Elektronenmikroskop CM 200 FEG

 

Hochauflösendes Transmissions-Elektronenmikroskop zur Klärung von Fragestellungen zur chemischen Zusammensetzung, Morphologie und kristallinen Struktur von Materialien

Ansprechpartner

Prof. Dr. Niels de Jonge

Kurzbeschreibung

Bei dem CM 200 FEG handelt es sich um ein hochauflösendes Transmissions-Elektronenmikroskop zur Klärung von Fragestellungen zur chemischen Zusammensetzung, Morphologie und kristallinen Struktur von Materialien. Das mit einem Schottky-Feldemitter ausgerüstete und mit maximal 200 kV Beschleunigungs-Spannung betriebene Gerät (Hersteller: Philips, Baujahr: 1994) erzielt mit einer Super-Twin-Objektivlinse eine Punktauflösung von 2.4 Å. Das Gerät verfügt über die Arbeitsmoden HR-TEM (Abbildung im Beugungs- und Struktur-Kontrast), TEM Low Dose (Abbildung unter geringer Elektronenstrahl-Belastung), Nano Probe (analytische Charakterisierung von Arealen bis zu einem minimalen Durchmesser von 1 nm). Abbildung mittels Rastertransmissions-Elektronenmikroskopie (STEM) ist nicht möglich. Die Akquisition der Bilder erfolgt mittels einer ‚Gatan MultiScan Camera’ (Model 794) und deren Auswertung mit der Bild-Bearbeitungs- und -Analyse-Software ‚DigitalMicrograph’. Zur qualitativen und quantitativen Elementanalyse ist ein energiedispersives Röntgenspektrometer DX-4 / Phönix der Fa. EDAX vorhanden.

Detailinformationen (Internetadresse)

http://www.inm-gmbh.de/de/technologien/gerateausstattung/

Art des Angebots

Geräteausstattung/Infrastruktur

Angebot ist interessant für

Industrie und Forschung, Servicemessungen

 

Anschrift

  • Campus D2 2
  • 66123 Saarbrücken

Ansprechpartner

  • Dr. Marcus Geerkens
  • Leiter Forschungsförderung und Technologietransfer
  • Tel.:0681/9300-227
  • Fax.:0681/9300-219
  • [E-Mail-Adresse versteckt]
 
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