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X`Pert - MRD - Diffraktometer

High Resolution Materials Research Diffraktometer der Fa. PANalytical

Ansprechpartner

Prof. Dr. Niels de Jonge

Kurzbeschreibung

Das hochauflösende Diffraktometer (minimale Schrittgröße 0.0001°, Reproduzierbarkeit £0.0002°) ist mit einer offenen Eulerwiege ausgestattet. Eine offene Eulerwiege ermöglicht eine j - Rotaton von 360° und eine Y - Neigung im Bereich von 180° (±90°).
Das Gerät arbeitet in einem J - 2J Modus. Die Probe wird in vertikaler Position auf den Probenhalter befestigt.
Der Strichfokus der keramischen Röntgenröhre wird in Kombination mit einer vollautomatischen und programmierbaren Optik oder einem Parallelplatten – Kollimator in Kombination mit einem ebenen – Graphit Monochromator eingesetzt (Abb.5a und 5b), der Punktfokus in Kombination mit der Röntgenlinse und dem Parallelplatten - Kollimator (Abb. 5c). Es stehen ein szintillations- Zähler und ein schneller Detektor (X`Celerator) zur Verfügung.
Im Reflektivitätsmodus wird, um einen Intensitätsbereich von bis zu acht Größenordnungen zu realisieren, bei einer vorgewählten Intensität (durch die Software gesteuert) automatisch ein Abschwächer in den Strahlengang gefahren. Die gemessenen Intensitäten werden automatisch abhängig vom Schwächungsfaktor korrigiert. Für gekrümmte Substrate wird eine Strahlschneidblende eingesetzt, die nahe an der Probenoberfläche positioniert wird und einer Linienverbreiterung entgegenwirkt. Reflktometrie -Messungen amorpher und kristalliner Proben ermöglichen Bestimmung der Dichte und Oberflächengüte kompakter Proben sowie Dichte, Dicke, Oberflächen- und zwischen – Schicht Rauhigkeit von Schichten und Schichtfolgen.
Der Einsatz der Röntgenlinse (Polykapillaroptik) im Primärstrahl bewirkt eine Parallelisierung des divergenten Röntgenstrahls in äquatorialer und axialer Richtung. Die somit erreichte Unempfindlichkeit der Reflexe auf Neigung (Y) und Rotation (j) der Probe, ermöglicht eine zuverlässige Textur und Spannungsanalyse. Da defokusierende Effekte nicht existieren, ist die Zuverlässigkeit der Bestimmung der Position des Reflexes über den gesamten Bereich der Neigung der Probe gegeben, was besonders für die Spannungs-Analyse von großem Vorteil ist. Auch Proben mit rauer und geneigter Oberfläche können zuverlässig untersucht werden.
Mit der Linse kann ein genau definierter Punkt auf der Probe der Größe zwischen 1x1 und maximal 10 x 10 mm beleuchtet werden. Die Divergenz der Cu Kα1,2 ‑ Strahlung beträgt 0.3°.
Untersucht werden können Proben mit einem Durchmesser von 100 mm x 100 mm, einer Probenhöhe von 24 mm und einem maximalen Gewicht von 0.5 kg. 

Detailinformationen (Internetadresse)

http://www.inm-gmbh.de/de/technologien/gerateausstattung/

Art des Angebots

Geräteausstattung/Infrastruktur

Angebot ist interessant für

Industrie und Forschung, Servicemessungen

 

Anschrift

  • Campus D2 2
  • 66123 Saarbrücken

Ansprechpartner

  • Dr. Marcus Geerkens
  • Leiter Forschungsförderung und Technologietransfer
  • Tel.:0681/9300-227
  • Fax.:0681/9300-219
  • [E-Mail-Adresse versteckt]
 
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